왼쪽부터 "전계 방출 주사 전자 현미경 HFS-2", "초고 해상도 스캐닝 전자 현미경 UHS-T1", "Critical Point Dryer"

 무료 바카라사이트 High-Tech Co., Ltd. (이하 "Hitachi High-Tech"라고도 함)는 일본 현미경 학회 (Microscopy of Microscopy)에 의해 모집 된 최초의 "현미경 유산"에 적용되어 3 개의 장치 : "HFS-2"로 언급 된 전자 전자 미시상 HFS-2 (필드 방출 스캔 전자) "UHS-T1") 및 "Critical Point 건조기 ("Dokan ") 및 인증을 받았습니다.
 "현미경 문화 유산"은 대중의 이익 통합 협회 인 일본 현미경 설립 75 주년을 기념하기 위해 소개 된 인증 시스템으로, 대중의 이익 통합 협회 (Aught Constrocted Association)를 기념하여 미래 세대로서 현미경의 발전에 크게 기여한 시대의 기술과 제품을 통과시키는 목표를 목표로 삼았다.

각 인증 된 제품의 개요

 "HFS-2"는 1972 년 카지노사이트. (이하 Hitachi라고 함)가 발표 한 세계 최초의 상업용 FE-SEM입니다.*1. 전계 방출 (FE) 전자 공급원은 1970 년 A.V. 교수에 의해 개발되었습니다. 시카고 대학교 승무원과 Hitachi의 기술 지침으로 초고속 진공 기술 및 Fe Electron Source Control 기술과 같은 기술적 문제를 해결했으며, 이는 Fe Electron 공급원을 상용화하는 데 필수적이며 세계 최초의 FE-SEM 상업화로 만들었습니다. "HFS-2"에 사용 된 FE 전자 소스 기술은 열 화성 방출 전자 공급원의 밝기의 약 1,000 배를 가지며, SEM 해상도를 15nm에서 3nm까지 5 배까지 증가시켰다. 현재 Fe-SEM은 의학 및 생물학 분야의 미세한 관찰, 나노 기술 관련 재료에 대한 연구 및 반도체 공정 조건의 형태를 결정하는 것과 같은 미세한 관찰이 필요한 광범위한 분야의 필수 장치이며, HFS-2는 선구자가 된 전자 현미경입니다.

  "UHS-T1"은 1985 년 Tottori University와 Hitachi에 의해 새로 개발되었습니다. FE-SEM에 설치된 고려 전자 총*2및 렌즈 메소드*3를 사용함으로써, 우리는 현재까지 표준 이론으로 간주 된 이론적 해상도 한계 (2NM)를 초과하는 초고 해상도 이미지를 허용하는 획기적인 성능 (당시 세계에서 가장 높은 해상도 : 0.5nm 해상도, 800,000 배의 최대 배율)을 달성했습니다. 1985 년, 그는 AIDS 바이러스의 3 차원 이미지를 성공적으로 관찰했으며, 당시 신문에도 사진이 출판되었습니다. 또한 신문의 출판물을 통해 전 세계적으로 배포되어 사회에 큰 영향을 미쳤습니다. 1991 년 SEM은 DNA의 이중 나선 구조를 관찰했으며 AIDS 바이러스의 관찰과 함께 세계 최초의 성공적인 사례였으며 의료 및 생명 공학 분야의 개발에 큰 기여를했습니다. 그 이후로, 재료 및 장치 엔지니어링 분야의 재료 관찰 및 분석에 적용되는 것을 포함하여 산업 개발에 크게 기여했으며, 현재 세계에서 가장 높은 해상도 (0.4nm) 인 초고 해상도 전기 릴리스 스캐닝 전자 미시상 전자 Su9000 °의 실제 적용을 이끌어 냈습니다.

  "Critical Point Dryer (별명 Dokan)"*4건조 방법은 액체의 표면 장력이 임계점 상태에서 사라지는 현상을 사용하는 건조 방법입니다. 1951 년 앤더슨이 소개했으며 1960 년대 후반에 SEM 샘플 생산에 사용되었습니다. 다른 방법과 비교할 때, 더 나은 미세 구조로 우수한 샘플을 생성 할 수있어 SEM 샘플의 제조를 지원하는 중요한 방법이라는 것이 밝혀졌습니다. Tottori University의 의학 교수 인 해부학부의 Tanaka Keiichi 교수는 회사와 협력하여 앤더슨 스타일 장치의 독특하게 개선 된 버전 인 국내 제작 된 "Dokan"을 개발하고 1971 년 7 월에 사용하기 시작했습니다.
    나중에 Hitachi는이 장치를 모델로 사용하여 Hitachi HCP-1 Critical Point 건조기를 개발하고 출시했습니다. FE-SEM과 동시에 설립 된 Hitachi HCP-1 Critical Point 건조기는 많은 일본 연구자들에 의해 사용되었습니다. 많은 연구 논문은 SEM 샘플의 준비에 없어서는 안될이 장치를 사용하여 과학 저널에 출판되었으므로 일본에서 SEM을 사용하여 세포 및 조직의 3D 미세 매스 분석을위한 기초로 인식 된기구로 인식됩니다.

  Hitachi 브랜드 전자 현미경은 1972 년 세계에서 처음으로 사용 된 최초의 제품이었으며, 필드 방출 전자 현미경은 "2012 년 IEEE Milestone 인증*5"현미경의 학업 및 기술 개발에 기여하고 광범위한 분야에서 연구, 개발 및 제조 분야의 문제를 해결했습니다.
  Hitachi High-Tech Group은 핵심 분석 및 분석 기술을 계속 연마 할 것이며, 집중된 시장에서 전용 측정 및 검사 솔루션을 만들기 위해 "환경, 탄력성, 안전 및 보안"분야에서 사회적 문제를 해결하는 데 기여할 것입니다.

*1

FE-SEM (전계 방출 주사 전자 현미경) : 전계 방출 주사 전자 현미경. Fe는 바늘 모양의 팁을 갖는 음극 (전자 방출 요소)에 강한 전기장이 적용되는 현상이다. 고밀도 전자가 방출된다.

*2

고 가상 전자 건 : 빔 스팟이 강력하고 좁게 좁아 지더라도 밝기가 부족하지 않은 전자 건.

*3

렌즈 내 방법 : 샘플이 대물 렌즈에 삽입되는 방법.

*4

중요한 점 : 세 가지 물질 상태 (고체, 액체, 가스) 사이의 상태를 나타냅니다.

*5

IEEE Milestone Certified : 세계 최대의 전기, 전자, 정보 및 커뮤니케이션 학회 인 IEEE가 세계 최대 전기, 전자 정보 및 통신의 사회 이후 25 년 동안 사회 및 산업 발전에 큰 기여를 한 것으로 인정 받고있는 역사적 업적을 인정하는 시스템. (참조:https : //www.무료 바카라사이트-hitech.com/jp/ja/ieee/)

Hitachi High Tech 소개

  Hitachi High-Tech는 또한 의료 분석 장치, 바이오 관련 제품, 방사선 치료 시스템, 반도체 제조 장비, 분석 장비 및 분석 장비의 제조 및 판매를 통해 광범위한 비즈니스 영역에서 글로벌 비즈니스를 확장하고 있습니다. 물론 Mobility, Connection 및 Energy and Energy와 같은 산업 분야에 고 부가가치 솔루션을 제공 할뿐만 아니라 고가의 총액을 제공합니다. 2024 년 3 월은 6,44 억 엔). 우리는 "보고, 측정 및 분석"의 핵심 강점을 바탕으로 다양한 사회 문제를 해결하고 비즈니스를 통해 지속 가능한 사회를 실현하는 데 기여할 것입니다.

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